求助 | 註冊 | 登入
理論模擬
by sdmclab, 2008-05-30 21:04:49, 人氣(2720)

 

APSYS

 

應用於半導體雷射以外的化合物半導體元件以及矽半導體元件,此軟體主要採用薛丁格方程式與帕松方程式來運算出光場電場熱效應載子流動穿遂效應壓電效應能帶等計算。對於設計一個新式幾何結構,亦可計算其模態與折射率分布極化效應表面電荷捕捉等光電元件重要物理參數。此軟體模擬種類眾多,包括LEDSolar CellsPhotodetectorsSOAOLEDMOSFETsHEMTHBTRTD以及RCLED等。

 

      

           

 

 

LASTIP

 

主要是用CAD的方法來作二維運算,主要模擬的是側射型雷射,除了計算外部實驗量測值如能帶圖,遠、近光場及其模態,LI/V發光頻譜自發放射頻譜等常見雷射光電特性也可以計算雷射微觀物理量如Auger復合速率載子分布載子電流變化元件溫度分佈等。其他諸如應力熱效應載子碰撞均可於計算時同時考量。此軟體提供半導體雷射設計所需的物理特性細節,協助新式幾何結構以及活性層設計的研究。

 

 

           

 

 

PICS3D

 

採用3D方式來運算,除了可以模擬側射型與面射型雷射光放大器較為複雜的DFBDBR雷射外腔式雷射光纖光柵雷射等皆可藉由此軟體計算。此模擬軟體除了包含LASTIP的功能外,還可以計算出光柵對於共振腔載子分布,載子電流變化的影響其他重要功能如旁模抑制比調變速度DBR反射率與相位也都包含在內。

 

 

           

 

 

TFCalc

 

一個光學薄膜設計和分析的通用工具,這裏有按順序排列介紹了 TFC 的功能:吸收、有效鍍膜、角度匹配、雙錐形的穿透、黑體光源、色彩優化、約束、繼續優化目標、派生目標、探測器、散射公式、電場強度、同等折射率、同等堆疊、獲得材質、全局優化、組優化、發光體、膜層敏感性、局部優化、多重環境、針優化、光學監控、光學密度、相位移動、 psi 、發光分佈、折射率的確定、反射、敏感度分析、堆疊公式、綜合、穿透率、隧道效應、可變材料。

 

 

                                

 

 

Zview

 

ZView可以模擬Impedance阻抗,也可以驗證C-V量測出的頻譜阻抗是否吻合其特性曲線,以利分析太陽能電池的等效電路。

 

附件
1. APSYS.bmp (507 KB)
2. LASTIP.bmp (507 KB)
3. PICS3D.bmp (507 KB)
4. TFCalc.bmp (454 KB)
5. Zview.jpg (6 KB)